Structural Analysis of Erbium-Doped Silica-Based Glass-Ceramics Using Anomalous and Small-Angle X-Ray Scattering

YAYIN ID:

9476180

KAPSAM AD:

Uluslararası

HAKEM TUR AD:

Hakemli

ENDEKS:

IndexCopernicus, EBSCO, DOAJ, Dimensions

MAKALE ADI:

Structural Analysis of Erbium-Doped Silica-Based Glass-Ceramics Using Anomalous and Small-Angle X-Ray Scattering

YAZAR ADI:

Vasconcelos Helena Cristina,Meirelles Maria Gabriela,ÖZMENTEŞ REŞİT,Santos Luís

DERGI ADI:

Foundations

YAYIN DILI ADI:

İngilizce

AY:

YIL:

2025

CILT:

SAYI:

ILK SAYFA:

SON SAYFA:

ISSN:

2673-9321

ERISIM TURU AD:

Basılı+Elektronik

ALAN BILGISI:

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı>Fizik>Yoğun Madde Fiziği>Optoelektronik>Yarı İletkenler>Spektroskopy, İnce film

YAZAR ID:

8517511

GUNCELLEME TARIHI:

2025-07-08 11:47:27

MAKALE TURU AD:

Özgün Makale

ERISIM LINKI:

https://www.mdpi.com/2673-9321/5/1/5