Predicting LAN switch failures: An integrated approach with DES and machine learning techniques (RF/LR/DT/SVM)

YAYIN ID:

9011606

KAPSAM AD:

Uluslararası

HAKEM TUR AD:

Hakemli

ENDEKS:

Scopus

MAKALE ADI:

Predicting LAN switch failures: An integrated approach with DES and machine learning techniques (RF/LR/DT/SVM)

YAZAR ADI:

Myrzatay Ali,Rzayeva Leila,Bandini Stefania,Shayea Ibraheem,Saoud Bilal,ÇOLAK İLHAMİ,KAYIŞLI KORHAN

DERGI ADI:

Results in Engineering

YAYIN DILI ADI:

İngilizce

AY:

YIL:

2024

CILT:

SAYI:

ILK SAYFA:

SON SAYFA:

ISSN:

2590-1230

ERISIM TURU AD:

Basılı+Elektronik

ALAN BILGISI:

Mühendislik Temel Alanı>Elektrik-Elektronik ve Haberleşme Mühendisliği>Haberleşme>Yapay Zeka>İşaret İşleme

YAZAR ID:

7931653

GUNCELLEME TARIHI:

2025-01-04 17:51:43

MAKALE TURU AD:

Özgün Makale

ERISIM LINKI:

https://doi.org/10.1016/j.rineng.2024.102356