The Effects of Surface Oxidation and H-Termination Processes Applied to Si Using Electrolytic Hydrogen Peroxide Solution to The Produced Cu/p-Si Schottky Contact Parameters

TEMİRCİ CABİR,HUSSEİN Qudama ALİ,ÖZMENTEŞ REŞİT,YAMAN ABUZER

The Effects of Surface Oxidation and H-Termination Processes Applied to Si Using Electrolytic Hydrogen Peroxide Solution to The Produced Cu/p-Si Schottky Contact Parameters

YAYIN ID:

8959380

KAPSAM AD:

Ulusal

HAKEM TUR AD:

Hakemli

ENDEKS:

TR DİZİN

MAKALE ADI:

The Effects of Surface Oxidation and H-Termination Processes Applied to Si Using Electrolytic Hydrogen Peroxide Solution to The Produced Cu/p-Si Schottky Contact Parameters

YAZAR ADI:

TEMİRCİ CABİR,HUSSEİN Qudama ALİ,ÖZMENTEŞ REŞİT,YAMAN ABUZER

DERGI ADI:

Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

YAYIN DILI ADI:

Türkçe

AY:

YIL:

2024

CILT:

SAYI:

ILK SAYFA:

182

SON SAYFA:

198

ISSN:

2146-0574, eISSN: 2536-4618

ERISIM TURU AD:

Basılı+Elektronik

ALAN BILGISI:

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı>Fizik>Yoğun Madde Fiziği>Optoelektronik>Yarı İletkenler>Schottky Contact

YAZAR ID:

7864793

GUNCELLEME TARIHI:

2024-04-01 17:59:39

MAKALE TURU AD:

Özgün Makale

ERISIM LINKI:

http://dx.doi.org/10.21597/jist.1239867