The Effect of Spontaneous Cracks on 2D MoS2 Phototransistor Performance

YAYIN ID:

3843618

KAPSAM AD:

Uluslararası

BILDIRI TUR:

Özet bildiri

BILDIRI ADI:

The Effect of Spontaneous Cracks on 2D MoS2 Phototransistor Performance

YAZAR ADI:

ŞAR HÜSEYİN,Özden Ayberk,Odacı Cem,SEVİK CEM,KOSKU PERKGÖZ NİHAN,AY FERİDUN

ETKINLIK ADI:

13th Nanoscience Nanotechnology Conference

YAYIN DILI ADI:

İngilizce

YAYIN DURUMU AD:

Yayımlanmış

BASIM TARIHI:

19.10.2017

DOI:

BASIM TURU AD:

Elektronik

ERISIM LINKI:

ALAN BILGISI:

Mühendislik Temel Alanı->Elektrik-Elektronik Mühendisliği

BILDIRI SUNUM TURU AD:

Poster

ETKINLIK BIT TARIHI:

25.10.2017

ETKINLIK BAS TARIHI:

22.10.2017