Critical layer thickness of GaIn N As Sb  QWs on GaAs and InP substrates for  001  and  111  orientations

YAYIN ID:

1270077

KAPSAM AD:

Uluslararası

HAKEM TUR AD:

Hakemli

ENDEKS:

SCI-Expanded

MAKALE ADI:

Critical layer thickness of GaIn N As Sb QWs on GaAs and InP substrates for 001 and 111 orientations

YAZAR ADI:

KÖKSAL KORAY,GÖNÜL BÜLENT,ODUNCUOĞLU MURAT

DERGI ADI:

The European Physical Journal B

YAYIN DILI ADI:

İngilizce

AY:

YIL:

2009

CILT:

SAYI:

ILK SAYFA:

211

SON SAYFA:

218

ISSN:

1434-6028

ERISIM TURU AD:

Elektronik

ALAN BILGISI:

Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı->Fizik

YAZAR ID:

767251

GUNCELLEME TARIHI:

2016-01-08 22:01:41

MAKALE TURU AD:

Özgün Makale

ERISIM LINKI:

http://www.springerlink.com/index/10.1140/epjb/e2009-00151-2