Structural Analysis of Erbium-Doped Silica-Based Glass-Ceramics Using Anomalous and Small-Angle X-Ray Scattering
Vasconcelos Helena Cristina,Meirelles Maria Gabriela,ÖZMENTEŞ REŞİT,Santos Luís
Basılı+Elektronik
Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı>Fizik>Yoğun Madde Fiziği>Yarı İletkenler>Malzeme Fiziği
2026-10-01 16:32:37
Özgün Makale
https://doi.org/10.3390/foundations5010005